2)
1) Déterminer les facteurs de structure Shkl des différentes structures
cubiques (cubique simple, cubique centré, cubique faces centrées, diamant).
2)Trouver dans chacun des cas les zéros de Shkl et en déduire les raies
permises.
3) montrer comment on peut à partir de la relation de Bragg indexer les raies d'un
cristal cubique et déterminer le paramètre de réseau.
1) et 2) facteurs de structure et raies permises
L'intensité des raies de diffraction est proportionnelle au carré du module du
facteur de structure définit par:
Shkl = S fi e-j2p ( xih + yik + zil )
fi: facteur de forme atomique
( xi, yi, zi ) coordonnées du ième atome de la maille
cristallographique
h, k, et l indices de miller du plan ( h, k, l )
Cubique simple:
un atome en ( 0, 0, 0 )
Shkl = fi
toutes les raies sont présentes.
Cubique centré:
un atome en ( 0, 0, 0 )
un atome en ( 1/2, 1/2, 1/2 )
Shkl= fi [ 1 + e-jp ( h + k
+ l ) ]
Shkl
= 2 fi si h + k + l est pair, les raies
sont présentes
Shkl
= 0 si h + k + l est impair, pas de
raie.
Cubique faces centrées:
un atome en ( 0, 0, 0 )
un atome en ( 0, 1/2, 1/2 )
un atome en ( 1/2, 0, 1/2 )
un atome en ( 1/2, 1/2, 0 )
Shkl= fi [ 1 + e -jp ( h +
k ) + e-jp ( h + l ) + e-jp ( l + k ) ]
Shkl = 4 fi si
h, k, l sont de même parité, les raies sont présentes
Shkl
= 0 si
h, k, l sont de parités différentes, pas de raie.
Stucture diamant:
réseau
cubique faces centrées + base à deux atomes
un
atome en ( 0, 0, 0 )
un
atome en ( 1/4, 1/4, 1/4 )
Shkl = fi [ 1 + e-jp ( h
+ k ) + e-jp ( h + l ) + e-jp ( l + k ) + e-jp
(h + k + l ) / 2 + e-jp (3h + k + l ) / 2
+ e-jp (h +3k + l ) / 2 + e-jp (h + k +3l ) / 2]
= fi [ 1 + e-jp ( h + k + l ) / 2 ][ 1 + e-jp ( h + k ) + e-jp ( h + l
) + e-jp ( l + k ) ]
Shkl = 4 fi ( 1 + j )
si h, k, l sont impairs,les raies sont présentes
Shkl = 8fi
si h, k, l sont de pairs et h + k + l = 4n (n entier), les raies sont présentes.
Shkl =
0
si h, k, l sont de parités différentes, pas de raie.
3) indexation des raies de diffraction
La relation de Bragg s'écrit:
2dhkl sin Q = l

D'après ce qui précède on peut obtenir le tableau suivant, les angles Q étant classés par ordre croissant:
Q est l'angle entre le rayon
diffusé et le plan ( h k l ), dhkl est la distance inter-réticulaire et l la longueur d'onde du faisceau incident et a le paramètre
cristallin. Les "x" repèrent les raies présentes dans les cas d'un cristal
cubique simple (cs), cubique centré (cc), cubique face centré et diamant (diam).
Connaissant l, la
mesure des différent angles de diffraction permet de remonter aux valeurs de dhkl.
Il suffit alors d'effectuer les rapports entre les dhkl successives et de
vérifier la cohérence avec les différents cas. Les raies étant indexées ont obtient
immédiatement a le paramètre cristallin.
Ex: Si le rapport des deux premiers dhkl est (4 / 3)1/2 il
s'agit d'un cfc.
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